368nm带通滤光片，带宽80nm(成品)
产品号：368BP80OD3T85P01
产品价格：306元/片（不含运费，运费到付）查看价格优惠！
库存尺寸：Φ25.4*6mm(有套圈，无法改尺寸) 更多尺寸...
尺寸说明：如Φ12.7*6，12.7表示直径，6表示厚度(厚度<6无套圈，厚度=6有套圈)
库存状况：有库存 抢先试用→ 
(成品)（缺货后, 定制时间 >1个月, 预付费用约= 8000元）
点击下图 ↓ 查看 详细透过率指标%
材料：浮法玻璃或石英玻璃
入射角：0°
中心波长：368 nm
半高宽:80 nm
峰值透过率: T>85% at 368 nm
截止深度: OD3-200~800nm OD是什么?
通光口径(mm): >11x11(11.4x11.4),>Φ8.7(Φ12.7)，>Φ21(Φ25.4)
应用领域：368nm窄带滤光片应用于机器视觉
其他指标: 可定制，库位号: B17-02-07
对基底材料、截止深度等有其他要求，您可以：预约定制...
368nm带通滤光片，带宽80nm
库存状况：有库存 抢先试用→ (成品)（缺货后, 定制时间 >1个月, 预付费用约= 8000元）
安装注意事项：(很多客户反映效果不理想的原因其实是安装问题)
1、滤光片内置安装在CCD前方是最佳方案。
2、兆九光电的滤光片特别适合内置安装在CCD前方（因为厚度薄,不易产生畸变，效果好）。
3、滤光片尽量不要在安装摄像头前方，这样系统成像效果会不好（请注意调整光学方案）。
4、试用请尽量拿库存尺寸，这样发货快，一般在申请批准后4天内到货。
5、试用的时候可以在摄像头或镜头前方试一下效果，但要注意入射角度不要太大，否则成像会有问题。
6、如果系统效果还是不好，请把详细光路系统告诉我们（400-668-5778 ），我们来帮您分析原因，有个客户开始一直不告诉我们系统的详细情况，结果走了很多冤枉路，后来我们帮他一分析，适当修改方案，结果很快就达到想要的效果了，除了滤光片产品外，我们在光学系统设计方面有很强的技术实力（当然，我们会对客户的方案保密，尽可放心！和客户一起成长是我们不变的宗旨）。
客户反馈及相关知识
客户反馈：
深圳x客户：“我是深圳的客户。向你们报告一个好消息：我们产品开发已经初步成功了！谢谢你们！我是11月出差回来才得知公司安排紧急开发这个产品的。说实在的，当时真的慌了，开发时间太紧张了。尤其是各种光路系统产品，质量是个大问题。怎么办？我还是很幸运的，在网上找到了你们。给汤博士打电话的时候，已经是晚上9点多了。我和汤博士电话里说了一下情况，和他进行了详细的沟通。我问，能不能在半个月帮我搞定各种光路系统产品，我要给自己留点时间进行开发及测试的。汤博士说没问题，这属特殊情况，现在就安排生产。半个月还没到，汤博士就把产品快递过来了，我们马上进行检测，产品质量我十分满意。我真的没想到，你们的速度如此快，如此敬业！加班加点为了我这个新客户服务，而且质量一次过关，可见你们这方面的生产经验确实丰富，我敢肯定在别的地方肯定没有这么快，帮我争取到了宝贵的开发时间，所以，我要真诚地向你们说声“谢谢！”并对你们高度的敬业精神和服务热情表示钦佩。”
产品简介及滤光小知识：
离子源是使试样分子在高真空条件下离子化的装置368nm带通滤光片。其方法是在激发光光源前和接收的摄像机前分别放置滤光片光学滤光片。对于更窄的窄带滤光片，需要用多腔滤光片结构，视带宽和截止深度要求具体确定相应的多腔结构。由于化工企业使用仪表的环境相对比较恶劣，被测量的介质温度、压力变化也相对比较大，在这种环境中投入仪表使用，仪表的某些部件随时间保持不变的能力会降低，仪表的稳定性会下降。因为厂家改螺纹是用机器改丝的,往往会有一到二牙螺纹没改到位。前者是在特定材料片基上，用化学浸蚀使吸收线正好位于需要的波长处。5 工作环境：。4 赛多利斯电子天平：。水位计。想让像变大就要使使物镜靠近物体,目镜远离物镜一些，像变小则反之……。由于混合，反应和检测几乎同时完成，它的分析效率较高。超声波扫描显微镜的特点在于能够精确的反映出声波和微小样品的弹性介质之间的相互作用，并对从样品内部反馈回来的信号进行分析！图像上（C-Scan）的每一个象素对应着从样品内某一特定深度的一个二维空间坐标点上的信号反馈，具有良好聚焦功能的Z.A传感器同时能够发射和接收声波信号。解剖显微镜，又被称为实体显微镜或立体显微镜，是为了不同的工作需求所设计的显微镜。为提高分辨率希望位数高一些，但还要考虑与单片机的接口和工作速度。如HITACHI 7170在P1到P34周期为10分钟时，PO前加样品，Rl在Pl前，R2在P5和P6间，R3在P16和P17间，R4在：P33和P34间。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物、化学等领域，在生物学和植物学也有应用。在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，荧光分析仪它还配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行高灵敏度的微量分析。检测记录系统绘出的各峰是测定流出气体电阻变化的结果，因而测定样品量可到微克和毫微克水平。
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10nm:200-300|300-400|400-500|500-600|600-700|700-800|800-900|900-1000|1000-1100
20nm:200-300|300-400|400-500|500-600|600-700|700-800|800-900|900-1000|1000-1100
30nm:200-300|300-400|400-500|500-600|600-700|700-800|800-900|900-1000|1000-1100
40nm:200-300|300-400|400-500|500-600|600-700|700-800|800-900|900-1000|1000-1100
50nm:50nm以上带通
